日本KETT 膜厚計渦流探頭 HP-110
特點:
膜厚計探頭L-500 / L-600
渦流探頭(用于非磁性金屬基材)
L型/通用
*多可保存 50 個應(yīng)用程序內(nèi)存
測量方法 | 渦流式 |
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測量目標 | 非磁性金屬上的絕緣涂層 |
測量范圍 | 0~1200μm |
測量精度 |
小于 50μm ±1.0μm,50μm 以上 ±2% *基于我們指定的條件 |
兼容的設(shè)備類型 | 膜厚計 L-500、膜厚計 L-600 標準/專家 |
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