測定儀器/分光輻射計

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產品名稱: 測定儀器/分光輻射計

產品型號: SR-LEDW-5N

產品廠商: 巖瀨商事

產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

TOPCON拓普康/測定儀器/分光輻射計 SR-LEDW-5N，量程極為寬廣，低可測亮度低至0.0005cd/m2,可用于評價體現黑畫面品質的超高對比度；高可測亮度高達5,000,000cd/m2,適用于評價超高亮度級LED的光學特性，是目前行業內的領先產品。

測定儀器/分光輻射計 的詳細介紹

TOPCON拓普康/測定儀器/分光輻射計 SR-LEDW-5N

特征：

? 量程特別寬廣，寬至0.0005～5,000,000cd/m2。
? 搭載FIX模式，可大幅縮短生產線上的連續測定時間(和本公司原有產品比較，可縮短1/2時間)
? 提升了靈敏度的均衡性能，從而能輕松測定LED芯片。
? 裝上照度接口（選配件）后，還能夠測定照度（lx）。
? 光譜波寬、半波寬5nm

主要用途：

? LED背光、LED照明器具的亮度?色度，以及色溫度特性，顯色性評價。
? LCD、OLED等，顯示器的亮度?色度，色溫度特性等所有光學特性評價指標。
? 車載頭燈、尾燈等、LED照明器具的亮度?色度的高精度測定。
? 作為光學特性評價探頭，搭載于各類自動測量機臺上。

技術規格

光亮采集	電子冷卻型線性陣列傳感器
波長分散原理	衍射光柵
光學系統	對物鏡 : f= 82mm F2.5, 目鏡 : 觀測視野 5°
測定角	2°/1°/0.2°/0.1° *電動切換式
測定距離	350mm – ∞ (從物鏡金屬件前端開始的距離)
光譜波寬	5nm *半波寬
波長精度	0.3nm *Hg 波寬線上
測定波長范圍	380 – 780nm
波長分解能力	1nm
測定模式	自動/手動 (積分時間/頻率) / 外部垂直同步信號輸入
測定內容	分光輻射亮度 : W?sr-1?m-2?nm-1
演算內容	輻射亮度 Le : W?sr-1?m-2, 亮度 Lv : cd?m-2, CIE1931 色度坐標 xy, CIE1976 色度坐標 u’ v’, 三刺激值 XYZ, 相關色溫度,偏差 CIE 表色系 2°/ 10°
亮度測定范圍(1) (2)	2°：0.0005 – 1,500,000 cd/m2 1°：0.0015 – 4,500,000 cd/m2 0.2°：0.0375 – 5,000,000 cd/m2 0.1°：　0.15 – 2,000,000 cd/m2
亮度精度(*1)	±2% 以下
色度精度 (*1)	±0.002
重復精度: 亮度(*3)	1.5% ： 0.0005～0.005 cd/m2 0.4% ： 0.005～0.1 cd/m2 0.3% ： 0.1 cd/m2以上
重復精度: 色度(*4)	0.005 ： 0.0005～0.005 cd/m2 0.0015 ： 0.005～0.1 cd/m2 0.0005 ： 0.1 cd/m2以上
偏光特性	亮度 : 1％以下, 分光輻射亮度 : 2％以下 (400 – 780nm)
測定時間(*5)	NORMAL 模式: 約1 – 248秒 HIGH SPEED 模式: 約1 – 17秒
界面	RS-232C, USB 2.0
電源	專用 AC 電源適配器 AC100V-240V, 50/60Hz
功率	約 36W
使用條件	溫度: 5 – 30℃, 濕度: 80%RH 以下 (且無凝露)
外形尺寸 (W×D×H)	150×406×239mm
質量	約 5.5kg

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